よくある質問 - 膜厚計 Q&A - Coating Thickness Gauge

A測定可能な被膜および素地の組み合わせが異なります。電磁膜厚計では、素地が磁性金属で被膜が非磁性金属膜または絶縁膜の測定が可能です。一方で、渦流膜厚計では、素地が非磁性金属で被膜が絶縁膜の測定が可能です。

A 素地の表面が粗い場合でも測定は可能ですが、一般的に実際の膜厚よりも厚い値が表示されます。QC-5シリーズには9つもの校正モードが搭載されており、ISO 19840に基づくオフセット機能や、2点校正機能（ゼロ点調整の実施有無も選択可）を使用することで、正確な膜厚を測定することができます。

A 分光干渉式膜厚計（反射分光式膜厚計）では、非接触で測定可能です。ただしダコタ・ジャパンでは販売していません。弊社取り扱い製品は全て接触式の膜厚計です。

A 超音波膜厚計を用いれば測定可能です。ただし、現在ダコタ・ジャパンでは超音波膜厚計を販売していません。

A ダコタ・ジャパンの取扱製品では、油膜の厚さの測定はできません。

A 一部の超音波膜厚計や分光干渉式膜厚計では、多層膜の各膜厚の測定が可能です。ただし、ダコタ・ジャパンではそれらの膜厚計は販売していません。

A 湾曲部の測定は可能です。凸面測定用にV溝付きのプローブを用意しています。ご注文の際にお申し付けください。
　凸面　R = 2mm以上 （最小半径2mm以上）
　凹面　R = 45mm以上（最小半径45mm以上）

A 厚物測定用プローブ以外は、±3%または± 2.5μm（どちらか大きい方）の精度で計測可能です。厚物測定用プローブの精度は、±3%または±20μm（どちらか大きい方）となります。

A 磁性金属上の非磁性メッキ、または導電性非磁性金属上の絶縁性メッキの測定が可能です。

A 残念ながら測定できません。測定可能な温度範囲は0～40℃です。

A 測定対象の素地と同じ材料・形状かつ表面粗さも同等のものを使用しゼロ点調整を行うことを推奨します。
付属のベースプレートを使用しゼロ点調整や1点・2点校正を実施した場合、正確な膜厚が表示されない恐れがあります。

A 用意しています。お気兼ねなくお問い合わせください。

A JIS K 5600-1-7「塗料一般試験方法−第1部：通則−第7節：膜厚」の要求を満たしています。ISO 19840、ISO 2178、ASTM D1400、SSPC-PA 2などの海外規格の要求も満たしています。