規格・用語集 - 膜厚計 Standard / Glossary - Coating Thickness Gauge
膜厚測定に関する規格を紹介します。また、膜厚計に関する各種用語についても分かりやすく説明します。
関連規格
膜厚測定に関する日本産業規格（JIS）およびISO、ASTMの一覧です。関連する規格を探す際にご利用ください。
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS K 5600-1-7 | 塗料一般試験方法−第1部：通則−第7節：膜厚 |
| JIS H 0401 | 溶融亜鉛めっき試験方法 |
| JIS H 8401 | 溶射皮膜の厚さ試験方法 |
| JIS H 8501 | めっきの厚さ試験方法 |
| JIS H 8641 | 溶融亜鉛めっき |
| ISO 2178 | Non-magnetic coatings on magnetic substrates — Measurement of coating thickness — Magnetic method |
| ISO 2360 | Non-conductive coatings on non-magnetic electrically conductive basis materials — Measurement of coating thickness — Amplitude-sensitive eddy-current method |
| ISO 2808 | Paints and varnishes — Determination of film thickness |
| ISO 19840 | Paints and varnishes — Corrosion protection of steel structures by protective paint systems — Measurement of, and acceptance criteria for, the thickness of dry films on rough surfaces |
| ISO 21968 | Non-magnetic metallic coatings on metallic and non-metallic basis materials — Measurement of coating thickness — Phase-sensitive eddy-current method |
| ASTM B244 | Standard Test Method for Measurement of Thickness of Anodic Coatings on Aluminum and of Other Nonconductive Coatings on Nonmagnetic Basis Metals with Eddy-Current Instruments |
| ASTM B499 | Standard Test Method for Measurement of Coating Thicknesses by the Magnetic Method: Nonmagnetic Coatings on Magnetic Basis Metals |
| ASTM D1186 (Withdrawn 2006) |
Standard Test Methods for Nondestructive Measurement of Dry Film Thickness of Nonmagnetic Coatings Applied to a Ferrous Base (Withdrawn 2006) |
| ASTM D7091 | Standard Practice for Nondestructive Measurement of Dry Film Thickness of Nonmagnetic Coatings Applied to Ferrous Metals and Nonmagnetic, Nonconductive Coatings Applied to Non-Ferrous Metals |
| ASTM D1400 | Standard Test Method for Nondestructive Measurement of Dry Film Thickness of Nonconductive Coatings Applied to a Nonferrous Metal Base |
| ASTM E376 | Standard Practice for Measuring Coating Thickness by Magnetic-Field or Eddy Current (Electromagnetic) Testing Methods |
| SSPC-PA 2 | Procedure for Determining Conformance to Dry Coating Thickness Requirements |
用語集
膜厚計に関する専門用語とその説明です。疑問が解決しない場合は、お電話もしくはメールでお気兼ねなくお問い合わせください。
| 用語 | 説明 |
|---|---|
| 電磁膜厚計 （電磁誘導式） |
電磁膜厚計（電磁誘導式）は、素地が鉄などの磁性体上の、樹脂やアルミ等の非磁性被膜の厚さを測定します。市場に最も流通している膜厚計で、扱いやすく手軽に膜厚の測定ができます。 プローブ内の１次コイルで発生させた磁束によって2次コイルに誘導される電流の量が、被膜の厚さにより変化することを利用し膜厚を算出します。 |
| 渦流膜厚計 （渦電流式） |
渦流膜厚計（渦電流式）は、アルミや銅など導体上の絶縁性被膜の厚さを測定します。原理は異なりますが、電磁膜厚計と基本的な使用方法は同じで、手軽に膜厚を測定できます。 プローブ内の1次コイルの磁束により発生した導体内部の渦電流の量が、導体と1次コイルとの距離によって変化することを利用し、膜厚を測定します。 |
| デュアル膜厚計 | 電磁誘導式と渦電流式の両方の測定方式を搭載した膜厚計です。デュアル膜厚計には、QC-5Cのように素地を判定し、測定モードを自動的に切り替えることができる膜厚計もあります。 |
| 超音波膜厚計 | 超音波膜厚計は、金属だけでなく、楽器や家具などの木材や、コンクリート上の塗膜の厚さが測定できます。 プローブから発信された超音波が、塗膜と素地の境界面で反射し戻ってくる時間（伝播時間）を測定し、伝播時間に塗膜の音速を乗じ膜厚を算出します。多層膜において、各膜の境界で超音波が反射する場合は、それぞれの膜厚が測定できる超音波膜厚計もあります。正しい膜厚を測定するためには、塗膜の正確な音速を事前に把握しておく必要があります。また、測定箇所には、カプラント（接触媒質）と呼ぶ液体を塗布する必要があります。電磁膜厚計や渦流膜厚計に比べると若干扱いが難しい膜厚計です。ダコタ・ジャパンでは現在取り扱いしていません。 |
| 分光干渉式膜厚計 | 分光干渉式膜厚計は、反射分光式膜厚計とも呼ばれており、非接触で膜厚を測定することができる装置です。 膜の表面で反射する光と、内部に透過し素地との境界面で反射する光の干渉パターンの違いを検出し、膜の厚さを算出します。ダコタ・ジャパンでは取り扱いしていません。 |
| ゼロ点調整 | 膜厚計に、膜厚がゼロの状態を設定する作業です。ノギスやマイクロメーターのゼロセットと似ていますが、膜厚計では測定対象の素地と同じ材料・厚さ・形状で、かつ塗膜が施されていない（膜厚がゼロ）の試験片を用意し、そちらでゼロ点調整を行う必要があります。ゼロ点調整を行わないと、正しい膜厚を測定することができません。 |
| 1点校正・2点校正 | 膜厚計は被膜の厚さを直接測定しているのでありません。電磁膜厚計では誘導電流の変化量、渦流膜厚計では渦電流の変化量、超音波膜厚計では伝播時間をまず測定し、次にそれらパラメーターに係数を乗じ膜厚を算出しています。係数は一定ではなく、素地の材料や形状、温度等により変化します。1点校正または2点校正は、この係数を補正する処理です。1点校正では任意の厚さ1点で、2点校正では任意の厚さ2点で補正を実施します。一般的には、2点校正を実施した方が測定精度は高くなります。また、素地の表面が粗い場合も2点校正を推奨します。 |
| 校正用フォイル | 膜厚計の動作確認や校正に使用するプラスチックのフィルムのことです。シム、標準片とも呼ばれています。 |
| 素地 | 被膜の下にある母材、基材、下地のことです。 |
| プローブ | センサーのことです。プローブの検出面に金属粉などの汚れが付着すると誤差の要因となります。始業前の点検で必ず確認し、汚れが付着している場合は綺麗に清掃してください。 |